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臥式光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-H)是應(yīng)用偏振光干涉原理對應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進行實驗應(yīng)力測試的儀器,簡稱光彈儀。應(yīng)用它可以通過模型在實驗室內(nèi)進行大型建筑構(gòu)件、水壩壩體、重型機械部件的應(yīng)力和應(yīng)力分布的測試,并可以在模型上直接看到被測件的全部應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。
立式光彈測試儀:光彈系數(shù)測試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進行實驗應(yīng)力測試的儀器,簡稱光彈儀。應(yīng)用它可以測試 SiC晶圓、手機膜、顯示屏、石英玻璃等器件內(nèi)部的應(yīng)力雙折射/殘余應(yīng)力,以圖像形式直觀觀察被測件的應(yīng)力分布和應(yīng)力集中情況。
FF35 CT 計算機斷層掃描系統(tǒng)非常適合檢查您的中小型產(chǎn)品:電子元件如SMD,導(dǎo)體封裝,材料探針(如金屬,塑料,CFRP),系統(tǒng),MEMS,MOEMS,療器械如空心,小金屬零件即注塑模具,電子設(shè)備,小鑄件。
FF65 CL 高分辨三維X射線檢測系統(tǒng)用于對三維集成電路、微機電系統(tǒng)和傳感器中最小和苛刻的功能進行自動分析。
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